СТРУКТУРНАЯ ДИАГНОСТИКА СИНТЕТИЧЕСКИХ МОНОКРИСТАЛЛОВ АЛМАЗА С ВЫСОКИМ КОЭФФИЦИЕНТОМ ОТРАЖЕНИЯ РЕНТГЕНОВСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ



Комплексный анализ высокосовершенных синтетических кристаллов
алмаза, основанный на данных рентгеновской топографии, дифрактометрии высокого
разрешения и оптической спектроскопии, позволил определить структурные
параметры, обеспечивающие рекордное значение коэффициента брэгговского
отражения для жесткого рентгеновского монохроматического излучения.

Ключевые слова: рентгеновская топография, дефекты кристаллов, рентгеновская оптика

2011, Т. 54, № 9, Стр. 4-10