ОЦЕНКА РАЗМЕРОВ НАНОЧАСТИЦ ГРАФИТА – СТРУКТУРНЫХ БЛОКОВ АКТИВИРОВАННЫХ УГЛЕРОДНЫХ ВОЛОКОН, ПУТЕМ ...

ОЦЕНКА РАЗМЕРОВ НАНОЧАСТИЦ ГРАФИТА –
СТРУКТУРНЫХ БЛОКОВ
АКТИВИРОВАННЫХ УГЛЕРОДНЫХ ВОЛОКОН, ПУТЕМ МОДЕЛИРОВАНИЯ ПРОФИЛЯ РЕНТГЕНОВСКОЙ
ДИФРАКЦИИ

Размеры нанографитов – структурных блоков активированных углеродных
волокон (АУВ) оценены без использования формулы Шеррера, путем компьютерного
моделирования экспериментального профиля рентгеновской дифракции с помощью
кривых рентгеновского рассеяния модельных нанографитов. Расчет кривых
рентгеновского рассеяния модельных нанографитов был выполнен в терминах теории
Уоррена -
Боденштейна с учетом зависимости межатомных расстояний в нанографене от его
размера. Приведены также данные исследований мотивов строения АУВ методами
малоуглового рентгеновского и комбинационного рассеяний.

Ключевые слова: активированные углеродные волокна,
нанографит, нанографен, рентгеновская дифракция, спектроскопия комбинационного
рассеяния, малоугловое рентгеновское рассеяние

2013, Т. 56, № 7, Стр. 46-49